光通訊行業用烤漆HAST高壓老化試驗箱

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华体会体育直播光通訊行業(ye) 用烤漆HAST高壓老化試驗箱又稱為(wei) 高壓加速老化試驗機，試驗的目的是提高環境應力(如：溫度)與(yu) 工作應力(施加給產(chan) 品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產(chan) 品或係統的壽命試驗時間。半導體(ti) 的測試:主要是測試半導體(ti) 封裝之抗濕氣能力，待測品被放置嚴(yan) 苛的溫濕度以及壓力環境下測試，如果半導體(ti) 封裝的不好，濕氣會(hui) 沿者膠體(ti) 或膠體(ti) 與(yu) 導線架之接口滲入封裝體(ti) 之中，常見的故裝原因：爆米花效應、動金屬化區域腐蝕造成之斷路、封裝體(ti) 引腳間因汙染造成之短路、、等相關(guan) 問題。

光通訊行業(ye) 用烤漆HAST高壓老化試驗箱針對JESD22-A102的試驗說明：

    用來評價(jia) 非氣密封裝器件在水汽凝結或飽和水汽環境下抵禦水汽的完整性。樣品在高壓下處於(yu) 凝結的、高濕度環境中，以使水汽進入封裝體(ti) 內(nei) ，暴露出封裝中的弱點，如分層和金屬化層的腐蝕。該試驗用來評價(jia) 新的封裝結構或封裝體(ti) 中材料、設計的更新。 應該注意，在該試驗中會(hui) 出現一些與(yu) 實際應用情況不符的內(nei) 部或外部失效機製。由於(yu) 吸收的水汽會(hui) 降低大多數聚合物材料的玻璃化轉變溫度，當溫度高於(yu) 玻璃化轉變溫度時，可能會(hui) 出現非真實的失效模式。

    外引腳錫短路：封裝體(ti) 外引腳因濕氣引起之電離效應，會(hui) 造成離子遷移不正常生長，而導致引腳之間發生短路現象。 濕氣造成封裝體(ti) 內(nei) 部腐蝕：濕氣經過封裝過程所造成的裂傷(shang) ，將外部的離子汙染帶到芯片表麵，在經過經過表麵的缺陷如：護層針孔、裂傷(shang) 、被覆不良處、、等，進入半導體(ti) 原件裏麵，造成腐蝕以及漏電流、、等問題，如果有施加偏壓的話故障更容易發生。

光通訊行業(ye) 用烤漆HAST高壓老化試驗箱滿足標準：

1、IEC60068-2-66  

2、JESD22-A102-B  

3、EIAJED4701  

4、EIA/JESD22  

5、GB/T2423、40-1997 

光通訊行業(ye) 用烤漆HAST高壓老化試驗箱技術優(you) 勢：

1．高壓加速老化試驗機采用全自動補充水位之功能,試驗不中斷、

2．試驗過程的溫度、濕度、壓力，是真的讀取相關(guan) 傳(chuan) 感器的讀值來顯示的，而不是通過溫濕度的飽和蒸汽壓表計算出來的，能夠真的掌握實際的試驗過程。

3．幹燥設計，試驗終止采用電熱幹燥設計確保測試區(待測品)的幹燥，確保穩定性。

4．準確的壓力/溫度對照顯示，完全符合溫濕度壓力對照表要求。

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